電気学会四国支部会員各位

時下ますますご清祥のこととお喜び申し上げます。

平素は、当支部の活動にご理解とご協力を賜り、厚くお礼申し上げます。

この度、香川大学においての電気学会四国支部主催の講演会を
開催いたします。つきましては、多くの会員の皆様へ参加をお願いしたく、
下記の通り御案内いたします。

-----------------------------　記　-----------------------------

　　　　　　　　　　　　講演会のお知らせ

日　時：平成２７年７月２１日（火）　１３：００～１４：３０
場　所：香川大学工学部６号館　６２０２教室
　　　　※キャンパスマップ
　　　　http://www.kagawa-u.ac.jp/access/hayashi/
　　　　〒761-0396 香川県高松市林町２２１７－２０
講師：産業技術総合研究所　集積マイクロシステム研究センター
　　　主任研究員　池原　毅　氏
題目：「ＭＥＭＳデバイスの信頼性試験」
参加料：無料
定　員：４０名（申込み不要）
　　　　※満員の場合は入室できない可能性があります。ご了承下さい。
主　催：電気学会四国支部
内容
　・疲労破壊とは
　・シリコン材料の疲労破壊
　・振動デバイスの信頼性
　・信頼性試験装置の開発
　・実験結果

----------------------------- 以上 -----------------------------