MC3-1　出力電圧の変化に基づくDC-DCコンバータの過渡検出について

◎白川拓也，古川雄大，黒川上二雄（長崎大学）

ディジタル制御にはA/D変換および演算時間に起因する遅れ時間の影響で過渡特性が悪化するという問題点があるため、過渡時の短い期間のみ比例ゲインを大きな値に切り替えることで過渡特性を改善する。本稿ではゲイン切替を行う際の出力電圧の過渡検出方法を報告する。